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履(涂)层测厚仪 >> QNix8500 涂层测厚仪  

QNix8500 涂层测厚仪

涂层测厚仪优点:
* 只需调零,无需校准
* 测量精度高
* 一体分体通用
* 可配多种探头
* 中英文菜单操作
* 智能化
* 带存储,并可连计算机对数据进行处理分析
* 可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度精确测量,误差小于±3um
涂层测厚仪可选探头:

* Fe铁基探头:    02000μm    05000μm
* NFe非铁基探头:  02000μm    05000μ
m
* NFe/Fe两用探头:02000μm    05000μ
m
* 无线传输探头

* 薄镀层探头

QNix8500 涂层测厚仪主机

   

FeNFeNFe\NFe

探头形式

一体、有线分体、无线分体

   

LCD

测量范围

02000μm
0
5000μm

测量精度

02000μm  ≤±2
2000
5000μm:≤±3

最小基体

Fe10mm×10mm   NFe6mm×6mm

最薄基体

Fe0.2mm      NFe0.05mm

 最小曲率 

凸半径:5mm     凹半径:30mm

储存温度

10 --- 60

温度补偿范围

   0  --- 60

   

21.5V干电池

   

124mm×67mm×33mm

   

120g(含电池及探头)

   

一个数据组,1000个测量值

数据传输

通过USB模块和电脑无线传输

统计功能

平均值,最大值,最小值,标准偏差

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